不マガ vol.44 検査時間を短縮できないか
2006/07/5 vol.44
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今 日 の ポ イ ン ト
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■半導体をトレイ内で自動検査
〜トプコン・イントレイチップ外観検査装置
日経産業新聞2006年7月4日より
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＜顧客企業の不満＞
■検査時間（＝コスト）を圧縮したい
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半導体を安定した品質で供給するために最終外観検査はとても重要な役割を
担っている。一方でクライアントからのコスト削減要求は厳しさを増し、検
査についても可能な限りのコストカットが求められている。検査にかかる時
間を少しでも短縮できればコストダウンに直結する。何とか時間短縮できな
いだろうか。
＜不満解消のポイント＞
◎半導体を取り出さずに検査する
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トレイに収納された半導体チップをそこから取り出さず外観検査できる装置
を開発した。トレイの中でチップを完全に静止させるのは難しいので、チッ
プが動くことを前提とし、そのズレをソフトによって補整。トレイから出さ
ずに高精度な検査性能を実現することで、品質安定と検査コストの大幅な削
減を可能とした。
＜今日のヒント＞
☆その場チェックで時間を短縮
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品質管理のために製造工程・要所でのチェックは必須。とりわけ最終段階で
の検査ともなれば、念には念を入れる慎重さが求められます。こうした潜在
意識があるから、徹底的な効率化が求められているにもかかわらず、検査に
かける時間だけは無意識のうちに聖域化されてきたきらいがあります。
しかし、より一層のというよりも、乾いた雑巾をさらに絞るような効率化が
求められる現状では、検査工程での時間（＝コスト）削減こそがポイント。
ここでどれだけの効率アップを図れるかが、競争に勝つ決定的なカギを握っ
ています。
では検査の効率アップをどのように実現するのか。
検査を製造から切り離さなずに考えることです。つまり検査工程を製造ライ
ンとは別に設定するのではなく、ラインの中で検査まで終了できる仕組みを
考える。その方法としてはトプコンのように新たな検査装置を開発する方法
もあるし、まったく別の工夫もあるでしょう。
要は一連の流れの中で検査までを仕上げること。これがポイントです。と考
えたとき、御社の検査プロセスで時間（＝コスト）短縮を図る余地はどこに
あるでしょうか。